高低溫測(cè)試箱主要針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。本試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

　　高低溫測(cè)試箱的濕度范圍選擇解讀：

　　國(guó)內(nèi)外環(huán)境測(cè)試箱給出的濕度指標(biāo)一般都是20-98%RH或30-98%RH，若濕熱試驗(yàn)箱沒(méi)有除濕系統(tǒng)，則濕度范圍為60-98%，這一類測(cè)試箱只能做高濕試驗(yàn)。

　　值得注意的是在濕度指標(biāo)后面應(yīng)該注明相應(yīng)的溫度范圍，或給出低露點(diǎn)溫度。因?yàn)橄鄬?duì)濕度是與溫度直接相關(guān)的，對(duì)于同樣的含濕量，溫度越高，相對(duì)濕度就越小，如含濕量為5g/Kg，當(dāng)溫度為29℃時(shí)，相對(duì)濕度為20%RH，溫度為6℃時(shí)，相對(duì)濕度為90%RH，當(dāng)溫度降至4℃以下，相對(duì)濕度超過(guò)100%，在箱體內(nèi)會(huì)出現(xiàn)結(jié)露現(xiàn)象。

　　高低溫測(cè)試箱實(shí)現(xiàn)高溫、高濕只需要往箱體空氣中噴水蒸汽或霧化的水珠，進(jìn)行加濕。低溫低濕則相對(duì)難于控制，因?yàn)楹瑵窳亢艿停踔帘却髿庵械暮瑵窳康秃芏?，需要?duì)箱體內(nèi)流動(dòng)的空氣除濕，使空氣變得干燥。

　　高低溫測(cè)試箱當(dāng)濕空氣經(jīng)過(guò)冷管時(shí)，其相對(duì)濕度會(huì)達(dá)到100%RH，因空氣飽和在光管上結(jié)露，使空氣變得更干燥。這種除濕方式理論上可達(dá)到零度以下的露點(diǎn)溫度，但是當(dāng)冷點(diǎn)表面溫度到達(dá)0℃時(shí)，光管表面結(jié)露的水滴會(huì)結(jié)冰，從而影響光管表面的熱交換，使除濕能力下降。又因?yàn)橄潴w不可能密封，大氣中的濕空氣會(huì)滲入到箱體內(nèi)，使露點(diǎn)溫度回升。另一方面，在光管間流動(dòng)的濕空氣只是在和光管(冷點(diǎn))接觸的瞬間達(dá)到飽和狀態(tài)而析出水蒸汽，因此這種除濕方法很難使箱體內(nèi)的露點(diǎn)溫度在到0℃以下。

　　實(shí)際所達(dá)到的低露點(diǎn)溫度為5-7℃。露點(diǎn)溫度5℃相當(dāng)于含濕量為0.0055g/Kg，對(duì)應(yīng)相對(duì)濕度20%RH的溫度為30℃。如果要求溫度20℃進(jìn)相對(duì)濕度達(dá)到20%RH，此時(shí)的露點(diǎn)溫度為-3℃，采用致冷方式除濕是很困難的，必須選用空氣干燥系統(tǒng)才能實(shí)現(xiàn)。